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一、產品介紹
LW200-4JT適用于廠礦企業、高等院校及科研機構作金相、巖相、礦相等材料表面組織結構的薄片觀察檢測。也可用于電子工業部門作晶體，芯片及新材料等方面的檢驗與分析。
*的100X干鏡可媲美國外同類產品,為國內市場配置zui的產品.
二、主要技術參數：
1．三目鏡筒：傾斜45 °可旋轉360 °，瞳距55mm-75mm
視度±5°輔助倍數1.25X
2．平場目鏡：高眼點10X/20mm可選配市場地直徑24mm
3．長距平場物鏡: PLL4X/37.5，10X/7.31，40X/0.63，80X/0.96
4．總放大倍數：40X-800X
5．載物臺：尺寸160mm*140mm
移動范圍 75*50mm
6．聚焦鏡：可調式阿貝聚焦鏡NA1.25
孔鏡光欄 濾色片座
7．調 焦 ：粗微動同軸 升降范圍25mm
微動格值0.002mm
8.暗場裝置
9．光 源：柯勒照明 正交偏振裝置 濾色片座
可調鹵素燈 12V/50W
可選配件:300萬數字彩色攝像頭,金相分析軟件
佳能數碼相機 100X（干鏡）
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